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Insitec在線粒度分析儀粒度分布的定義所謂粒度分布，就是粉體樣品中各種大小的顆粒占顆粒總數的比例。當樣品中所有顆粒的真密度相同時，顆粒的重量分布和體積分布一致。在沒有特別說明時，儀器給出的粒度分布一般指重量或體積分布。1.公式法表達粒度分布:Rosin-Rammler公式:W(x)=1-exp[-(x/De)^N]式中，De是與x50(中位徑)成正比的常數，N則決定粒度分布的范圍，N越大，力度分布范圍越窄，表示樣品中顆粒分布的均勻性越好。2.中位徑:中位徑記作x50,表示...

X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的大尺寸要求為直徑51mm，高40mm。X射線熒光光譜儀分析的元素范圍廣，從4Be到92U均可測定；X射線熒...

zeta電位儀的測量方法：電泳法對許多熟悉利用此法進行高分子分離的人來說，顆粒電泳也是一個類似現象。懸浮于介質中的顆粒被置于一電場中；如果帶電他們會在電場產生流動，陽性顆粒朝負極流動，陰性顆粒朝正極流動。然而，顆粒并不是獨自流動，他們周圍會攜帶一薄層離子和溶劑。這一分離固定媒介與移動顆粒及其攜帶的離子和溶劑的界面叫做流體剪切面，而zeta電位正是這一界面的電位。因此zeta電位可以通過測量顆粒在已知電場中的流速來測定。早期的測量儀器（Rank微電泳儀）通過充滿誤差，慢速度的手...

馬爾文流變儀的分類介紹：旋轉流變儀A:控制應力型:使用多，如德國哈克(Haake)RS系列、美國TA的AR系列、英國Malven、奧地利Anton-Paar的MCR系列，都是這一類型的流變儀。前三家的產品馬達采用托杯馬達，托杯馬達屬于異步交流馬達，慣量小，特別適合于低粘度的樣品測試;Anton-Paar的MCR流變儀和美國TA公司的ARES采用永磁體直流馬達，但從原理上響應速度快，是應力型流變儀的一種發展方向。這一類型的流變儀，采用馬達帶動夾具給樣品施加應力，同時用光學解碼器...

x射線熒光光譜儀是利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。按激發、色散和探測方法的不同，分為X射線光譜法(波長色散)和X射線能譜法(能量色散)。x射線熒光光譜儀主要由激發、色散、探測、記錄及數據處理等單元組成。激發單元的作用是產生初級X射線。它由高壓發生器和X光管組成。后者功率較大，用水和油同時冷卻。色散單元的作用是分出想要波長的X射線。它由樣品室、狹縫、測角儀、分析晶體等部分組成。通過測角器以1∶...