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1、方法的特點(diǎn)粉末衍射儀法是用檢測(cè)器逐個(gè)測(cè)量每一個(gè)衍射的位置和強(qiáng)度，而照相方法則是用底片同時(shí)記錄可攝角度范圍內(nèi)的全部衍射線。所以，若需檢查衍射環(huán)的外貌特點(diǎn)（是否不連續(xù)，樣品中是否存在擇優(yōu)取向等）時(shí)，則用照相法較為方便。2、對(duì)樣品的要求樣品的zui少用量?jī)煞N方法差別很大。要得到一張好的粉末圖，衍射儀所需的粉末的體積至少為0.lml，如果對(duì)線條的強(qiáng)度數(shù)據(jù)要求不高，則有0.02ml體積的粉末也足使用，這和聚焦照相機(jī)所需的樣品起碼用量差不多。D-S．照相法樣品用量很少，用0.0015...

性能無(wú)疑是評(píng)估光譜儀非常重要的指標(biāo)。性能優(yōu)異的進(jìn)口X射線熒光光譜儀做篩選檢測(cè)能準(zhǔn)確無(wú)誤地排查合格和不合格，并將不確定的灰色部分壓縮到zui小；有的光譜儀鉛砷不分、鎘的特征譜線與X光管銠電極的特征譜線重疊等。經(jīng)常誤判；有的光譜儀檢測(cè)鎘的靈敏度不夠高，不能準(zhǔn)確判定鎘；大部分光譜儀的檢測(cè)穩(wěn)定性受到X光管老化、環(huán)境溫度、電源波動(dòng)等影響，使數(shù)值不準(zhǔn)。由于性能不足，可能發(fā)生錯(cuò)判、誤判、無(wú)法判定等事件頻發(fā)，不確定的灰色部分比例大增。其后果必然是成本顯著提高、風(fēng)險(xiǎn)增加。有的光譜儀X射線漏泄嚴(yán)...

X射線光電子能譜（XPS，全稱為X-rayPhotoelectronSpectroscopy）是一種基于光電效應(yīng)的電子能譜，它是利用X射線光子激發(fā)出物質(zhì)表面原子的內(nèi)層電子，通過(guò)對(duì)這些電子進(jìn)行能量分析而獲得的一種能譜。這種能譜zui初是被用來(lái)進(jìn)行化學(xué)分析，因此它還有一個(gè)名稱，即化學(xué)分析電子能譜（ESCA，全稱為ElectronSpectroscopyforChemicalAnalysis）光電離幾率和XPS的信息深度（1）光電離幾率定義:光電離幾率(光電離截面ó)：一定能量的光...

隨著技術(shù)發(fā)展，X射線熒光分析儀的種類越來(lái)越多，商品名稱也比較混亂，再加上用戶對(duì)相關(guān)知識(shí)的了解有限，使得用戶合理選擇儀器的難度大大增加。熒光x射線分析選型誤區(qū)一：強(qiáng)調(diào)“熒光”許多用戶誤認(rèn)為只有用X光管作為激發(fā)源的管激發(fā)儀器才是X熒光儀，一味地強(qiáng)調(diào)所謂“熒光”。事實(shí)上，如前所述，無(wú)論是采用X光管還是采用放射性同位素源作為激發(fā)源，只要是由X射線激發(fā)、通過(guò)測(cè)定被測(cè)樣品發(fā)出的熒光X射線得出其化學(xué)成分及含量的儀器，都是X熒光分析儀。X射線熒光分析儀源激發(fā)和管激發(fā)各有優(yōu)缺點(diǎn)。源激發(fā)類型的儀...

一、X射線的散射X射線通過(guò)物質(zhì)時(shí)，部分X射線將改變它們前進(jìn)的方向，即發(fā)生散射現(xiàn)象。X射線的散射包括兩種：相干散射和非相干散射。X射線衍射儀廠家下面做詳細(xì)解釋：1、相干散射定義：入射的X射線光子與原子中受束縛較緊的電子相碰撞而彈射，光子的方向改變了，但能量幾乎沒(méi)有損失，于是產(chǎn)生了波長(zhǎng)不變的相干散射。?機(jī)理：原子中的電子在入射X射線電場(chǎng)力的作用下產(chǎn)生與入射波頻率相同的受迫振動(dòng)，于是這樣的受迫振動(dòng)的電子便成為一個(gè)新的電磁波源，向四周輻射與入射X射線的頻率（波長(zhǎng)）相同的電磁波，并且彼...