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DDCOM 用于超快速晶體取向測量 用于晶體取向測量的臺式 X射線衍射儀 (DDCOM) 是一種用于自動測定各種晶體取向的工具。

用于晶體取向測量的SDCOM小型衍射儀 用于單晶（晶錠和晶圓）的材料研究、生產和質量控制的臺式XRD設備。 Si | SiC | 金剛石 | AIN | GaAs | 石英 | LiNbO? | bbo | GaN 和其他一百多種材料。

Wafer XRD Panalytical X射線技術 用于全自動晶圓揀選、生產和質量控制。

Omega/Theta Panalytical X射線技術 最高精度，最大靈活性

XRD 系列 晶圓和鑄錠快速準確的晶向定位 從全自動的在線分析到晶圓材料的快速質量檢查,我們的晶向定位解決方案在設計時考慮到了晶棒、鑄錠、切片和晶圓的全部應用場景。此系列產品利用XRD分析技術在晶圓生產的全部流程中，提供簡單、快速、高精度的晶體定向測量，大大提高產品良率。