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X射線熒光光譜儀 （XRF） 能夠對多種材料進行元素分析，包括固體、液體和疏松粉末。 馬爾文帕納科X射線熒光光譜儀Zetium專為滿足要求嚴苛的流程控制和研發(fā)應用需求而設計，其高品質的設計和功能，可對從鈹到镅等多種元素進行精度范圍從百萬分之一以下到百分之一的分析。
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